El software de test IJTAG Pro acelera las operaciones IJTAG con procesos paralelos, permite acceso de lectura y escritura en hardware personalizado e incorpora streaming de datos de alta capacidad.
El nuevo IJTAG Pro de Siemens transforma el funcionamiento tradicional de IJTAG (IEEE 1687), que hasta ahora operaba en serie, mediante la introducción de procesos paralelos y acceso completo a hardware personalizado.
El software añade funcionalidad de streaming genérico de datos y un bus JTAG interno de gran ancho de banda, aprovechando la arquitectura Tessent Streaming Scan Network (SSN), con el fin de reducir los costes de test y el tiempo de aplicación de patrones.
Optimización de test en arquitecturas 2.5D y 3D IC
La evolución de los semiconductores hacia arquitecturas 2D, 2.5D y 3D IC multiplica los desafíos de test, ya que el número de patrones aumenta exponencialmente y los tiempos de aplicación se alargan, mientras que el coste de equipos automáticos de prueba (ATE) y la limitación en el acceso a pines dificultan la escalabilidad.
Con ijtag pro, la conversión de operaciones seriales a procesos paralelos de alta capacidad permite acelerar la transmisión de datos dentro del chip y reducir de forma significativa la duración de las pruebas, algo especialmente útil en chiplets y encapsulados completos de 3D IC.
Alta capacidad para BIST e IP mixtas
El uso del bus SSN permite entregar patrones a gran velocidad en comparación con los métodos tradicionales, reduciendo notablemente los tiempos de aplicación de pruebas, en particular para test BIST e IP de señal mixta.
La combinación de las capacidades de ijtag pro junto con el software Tessent AnalogTest recientemente anunciado amplía de forma considerable el ancho de banda y las posibilidades de diseño y verificación en entornos de semiconductores avanzados.
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