El software de test analógico Tessent AnalogTest permite generar patrones de prueba para circuitos integrados en cuestión de días en lugar de meses, alcanzando coberturas de defecto superiores al 90 % y ejecutando pruebas hasta 100 veces más rápidas.
El nuevo Tessent AnalogTest de Siemens introduce una solución automatizada para la generación de test en circuitos analógicos integrados que reduce drásticamente el tiempo de desarrollo de patrones de prueba.
Tradicionalmente, la verificación de circuitos analógicos ha requerido un trabajo intensivo en codificación de pruebas y la utilización de equipos mixtos de alto coste, lo que ralentiza los procesos de diseño y producción.
Mediante la integración con la tecnología ya consolidada Tessent DefectSim, el software tessent analogtest permite acortar los plazos de codificación de pruebas gracias a la creación automática de circuitería DFT de bajo impacto y patrones digitales aplicables a casi cualquier bloque analógico.
Reducción de tiempos y mayor cobertura
Las pruebas se ejecutan en menos de un milisegundo sobre prácticamente cualquier equipo de test digital, con una verificación de cobertura de defectos hasta 1000 veces más rápida que en los métodos basados en especificaciones.
Este avance permite a los diseñadores de circuitos integrados alcanzar coberturas de defecto superiores al 90 % siguiendo la norma IEEE P2427, en cuestión de horas y antes de la producción en silicio.
La solución facilita el uso de equipos de test digitales automatizados en lugar de costosos sistemas mixtos, con el consiguiente ahorro económico y un incremento significativo de la productividad.
Aplicaciones en diseños reales
El fabricante onsemi ha implementado el software en un diseño ya tapeado, alcanzando una cobertura de defectos analógicos superior al 95 % y una mejora de más de 100 veces en los tiempos de prueba en comparación con los métodos tradicionales.
La herramienta también extiende sus capacidades mediante la generación de bancos de prueba de simulación a partir de descripciones ICL y PDL de alto nivel, en conformidad con la norma IEEE P1687.2, lo que permite validar flujos de test analógico, métricas de seguridad funcional ISO 26262 y pruebas paramétricas adicionales.
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