UltraFLEXplus incorpora una suite de instrumentos ATE para caracterización, validación y producción de semiconductores orientados a IA y centros de datos.
Los nuevos UltraPin5000-EM, UltraPort-PCIe6 y UltraVS64-HP de Teradyne amplían la plataforma UltraFLEXplus con tres instrumentos para ATE, siglas de Automated Test Equipment o equipo automático de prueba, dirigidos a dispositivos de computación para IA, es decir, inteligencia artificial, y centros de datos.
La propuesta aborda el incremento de complejidad en semiconductores avanzados, donde la validación de obleas, encapsulados multi-die y sistemas de alto consumo requiere más memoria de patrones, mayor ancho de banda y una alimentación de prueba más estable.
Además, la suite cubre fases que van desde el sondeo inicial de oblea hasta la validación final en rack, por lo que permite mantener criterios de calidad coherentes en diferentes puntos del flujo de test.
UltraFLEXplus en test automático de semiconductores avanzados
El instrumento digital UltraPin5000-EM se ha desarrollado para dispositivos de IA y computación con alta densidad de patrones, ya que ofrece hasta 80 veces más memoria vectorial que otras soluciones del mercado citadas por el fabricante.
En concreto, las cargas de patrones pueden ser hasta 10 veces más rápidas, mientras que el modo Persistence Mode facilita recargas casi instantáneas durante tareas de depuración y caracterización.
Para laboratorios de validación, esta capacidad reduce tiempos de iteración en campañas de medida complejas y, por tanto, ayuda a acelerar la monitorización del comportamiento eléctrico bajo distintos escenarios de prueba.
La integridad de señal alcanza 5 Gbps, gigabits por segundo, y la arquitectura de temporización admite frecuencias de reloj independientes por pin para adaptarse a dispositivos heterogéneos.
Asimismo, la aceleración de redes de escaneo compila resultados por núcleo en tiempo real y permite decisiones de test adaptativo sin reducir la cobertura estructural.
Interfaz PCIe Gen6, alimentación de alta corriente y diagnóstico
El UltraPort-PCIe6 introduce una solución ATE de I/O, entrada y salida, para interfaces PCIe Gen6, Peripheral Component Interconnect Express de sexta generación, con 64 Gbps mediante PAM-4, modulación por amplitud de pulso de cuatro niveles, en 32 carriles por instrumento.
Por otro lado, la combinación de integridad de señal, PMU por pin, unidad de medida paramétrica por pin, y bucle de retorno integrado amplía la cobertura diagnóstica y simplifica la estabilización de configuraciones de producción.
Un backend de computación de clase servidor escala hasta 2 TB de memoria de alto rendimiento, de modo que puede ejecutar grandes conjuntos de datos de prueba con tiempos reducidos.
También admite pruebas en modo misión y escaneo de I/O de alta velocidad, lo que favorece trasladar cobertura a inserciones tempranas y mejorar la confianza en Known Good Die antes de usar memorias HBM, High Bandwidth Memory, o ensamblajes avanzados.
La fuente UltraVS64-HP entrega 1280 A por instrumento, 5120 A en suministro agrupado y una capacidad total de celda de test superior a 15000 A.
Su rango de 16 V prepara el sistema para arquitecturas IVR, regulador de tensión integrado, desde dispositivos de baja tensión y alta corriente hasta entradas de mayor tensión.
Además, la detección multipunto integrada y la respuesta dinámica ante carga ayudan a mantener condiciones estables cuando la actividad de alta corriente se desplaza por chips de gran tamaño o paquetes multi-die.
El perfilado avanzado de potencia ofrece acceso directo a datos de comportamiento durante la prueba, mientras que la interfaz inteligente de alimentación incorpora respuesta rápida ante fallos para limitar riesgos térmicos y daños en tarjetas de sonda o zócalos.
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