La guía ‘5 Reasons Why Reed Relays are Ideal for Semiconductor Testing’ demuestra cómo los relés reed optimizan la conmutación en pruebas de obleas y ensayos paramétricos.
El fabricante de relés reed de alta fiabilidad Pickering Electronics ha publicado una nueva guía de aplicación técnica dirigida a ingenieros que desarrollan equipos automáticos de prueba (ATE) y sistemas de test y medida (T&M).
Bajo el título “5 razones por las que los relés reed son ideales para test de semiconductores”, el documento detalla los beneficios clave de emplear relés reed en este tipo de entornos, especialmente en el test de obleas.
Durante el proceso de fabricación de semiconductores, antes de cortar las obleas en chips individuales para su encapsulado, se llevan a cabo pruebas eléctricas y funcionales mediante equipos de sondeo de obleas.
Este tipo de ATE permite verificar la funcionalidad de cada troquel, ya sean estructuras simples como diodos o transistores, o circuitos integrados complejos como procesadores, memorias o convertidores analógico-digitales (ADC).
Conmutación precisa en entornos exigentes
En estas pruebas, los pines de test se desplazan para hacer contacto con las almohadillas de cada troquel y aplicar diversas condiciones de prueba como tensiones, corrientes o señales.
A su vez, el equipo registra parámetros eléctricos tales como niveles de tensión, intensidad o formas de onda de salida. Las técnicas incluyen ensayos paramétricos en corriente continua (DC) y alterna (AC), así como pruebas funcionales para validar el comportamiento esperado del componente.
En el caso de dispositivos de potencia, las pruebas requieren el uso de tensiones elevadas, mientras que para dispositivos de alta frecuencia o radiofrecuencia (HF/RF) es necesario trabajar con formas de onda adaptadas a estos rangos. Por tanto, el sistema de test debe ser capaz de gestionar múltiples condiciones de operación de forma flexible y controlada.
Ventajas técnicas de los relés reed
Tal como explica Robert King, Product Manager de relés reed en Pickering, “los relés reed permiten a los ATE conmutar entre distintas condiciones de prueba y dirigir los resultados a los circuitos de acondicionamiento de señal de forma precisa y segura”.
Dado que muchas estaciones de sondeo solo incorporan uno o dos contactos de prueba, la capacidad de conmutación que ofrecen estos relés se vuelve indispensable para garantizar el rendimiento del sistema.
La nueva guía técnica describe cinco razones fundamentales por las que los relés reed destacan como la mejor tecnología de conmutación en estas aplicaciones.
Entre ellas se incluyen su bajo nivel de fuga, elevada velocidad de conmutación, aislamiento galvánico, larga vida útil y comportamiento predecible bajo diferentes condiciones operativas.
Para los ingenieros que trabajan en diseño y verificación de ATE para semiconductores, dicha publicación constituye una herramienta útil para seleccionar los componentes de conmutación más adecuados, especialmente en entornos donde la precisión, la fiabilidad y la repetibilidad del test son esenciales.
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